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- SCD（SemiConductor Devices）
- Sierra-Olympia（Sierra-Olympia Technologies Inc.）
- StingRay（Div. of G&H）
4D Technology Inc.
4D Technology社はnm以下の精度を必要とするレーザ干渉計に、偏光(PhaseMask方式)や高周波干渉縞(Spatial Carrier Fringe方式)を利用した瞬時撮像技術を導入し、除震を必ずしも要しない高い耐環境性能を有した干渉計のシリーズを提供できるメーカです。
主に航空宇宙関連・半導体関連・大口径光学系などの分野で強みを発揮しています。
